Документы

ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» на 2009-2013 гг. :

Координационные соединения редкоземельных элементов и полифункциональных наноразмерных материалов на их основе: электронное строение и оптические свойства. Соглашение 14.А18.21.0792:
Аннотированный отчет.doc

Электронное строение и свойства кислородосодержащих комплексных соединений и оксидных структур. Госконтракт 02.740.11.0634:
отчет 1 этап, отчет 2 этап, отчет 3 этап


Оборудование

Высоковакуумная двухкамерная система (MXPS XP)

Производитель – Omicron NanoTechnology GmbH

Спектрометр представляет собой многофункциональную сверхвысоковакуумную систему анализа поверхности твердого тела методами электронной спектроскопии. Оптимизирован для использования нескольких источников излучения совместно с анализатором высокого разрешения для исследования широкого диапазона энергии связи электронов.

Доступные методы: элементный анализ, количественный анализ, исследование изменения концентрации веществ по глубине в приповерхностном слое, структура внутренних и валентных электронных уровней

Источники излучения:

«DAR 400» – источник рентгеновского излучения с двумя анодами для эксперимента РЭС в сверхвысоковакуумных системах. Энергия излучения — 1253,6 эВ (MgKa) и 1486,7 эВ (AlKa).

Монохроматор «XM 1000 MkII».
При сравнении с обычным РЭС использование в эксперименте монохроматичного излучения дает ряд преимуществ. Среди них: отсутствие сателлитов в рентгеновском луче, улучшенное разрешение спектральных линий, минимизация повреждения образца излучением, улучшение соотношения сигнал-шум, возможность выделения узкого луча. Энергия излучения — 1486,7 эВ (AlKa).

Источник ультрафиолетового излучения «HIS 13».
«HIS 13» с рабочим газом гелием позволяет получать два вида излучения — HeI или HeII. Энергия излучения – 21,2 эВ (HeI) и 40,8 эВ (HeII). Доступно проведение исследований в области энергии валентных электронов.

Источники заряженных частиц:

Ионная пушка с острым фокусом «ISE 100» – это эффективное устройство очистки и ионного травления поверхности образца для исследования приповерхностных слоев. Рабочая частица – ион Ar+. Энергия вылета ионов может задаваться произвольно в диапазоне от 0,1 до 5 кэВ.

Источник быстрых электронов «EKF 300» — источник высокоэнергетичных электронов в диапазоне от 0,1 до 5 кэВ для проведения оже-эксперимента.

Нейтрализатор заряда CN10 — используется для создания потока медленных электронов с энергией от 1 до 15 эВ с целью снятия положительного заряда с непроводящего или слабопроводящего образца.

mxp (1)